개요
Feasa Legend는 LED 수가 많은 생산 환경을 위해 제작되었습니다. 하나의 중앙 허브(Hub)가 최대 8개의 새틀라이트(Satellite) 모듈을 제어하여, 전체 시스템이 한 번의 캡처 사이클로 160개의 LED를 테스트할 수 있게 합니다.
LED 수가 계속 증가함에 따라, 제조업체는 속도를 희생하지 않고 확장할 수 있는 테스트 시스템을 필요로 합니다. Legend 허브는 최대 8개의 새틀라이트 모듈과 통신하여 최대 160개의 LED를 동시에 측정할 수 있게 하는 동시에, 고처리량 최종 공정 생산을 위한 독립형 합격/불합격 판정도 지원합니다.
모듈형 아키텍처 덕분에 제품이 발전함에 따라 손쉽게 확장할 수 있으며, 지능형 소프트웨어는 여러 제품 변형에 걸친 신속한 합격/불합격 테스트를 지원합니다 — 최대 160개의 LED를 단 0.8초 만에 캡처합니다.
대규모 LED 수를 위해 제작되었으며, 전 세계에서 신뢰받고 있습니다.
최대 160개의 LED 동시 테스트
하나의 허브가 최대 8대의 새틀라이트를 제어하여, 간결한 구성으로 확장 가능한 대량 LED 생산 테스트를 지원합니다.
포괄적인 출력 파라미터
출력에는 색상, 채도, 강도, 주파장, CCT, CIE xy 및 CIE u'v'가 포함됩니다.
완전한 소프트웨어 패키지
Feasa 소프트웨어 스위트 전체가 기본 제공되며, DLL과 LabVIEW, C, C++, C#, Python용 프로그래밍 예제가 함께 제공됩니다.
생산 라인 통합을 위한 설계
PC 연결 하나로 허브를 제어하며, 각 허브는 최대 8대의 분석기를 지원하여 생산 라인 통합을 단순화합니다.
생산 현장에서 검증됨
- Feasa 제품으로 매일 수백만 개의 LED 테스트
- 전 세계 주요 제조사의 생산 라인에서 사용
엔지니어의 직접 지원
지그 통합 및 설치부터 문제 해결까지, 당사 기술팀이 도입 전 과정을 지원합니다.
응용 분야
당사의 Legend 분석기가 일반적으로 사용되는 분야.
기술 사양
| 항목 | 값 | 비고 |
|---|---|---|
| 채널 | 160 / 무제한 | 허브당 최대 8개 새틀라이트 × 각 20개 LED, 허브를 결합해 확장 가능 |
| 파장 범위 | 450–650 nm | |
| 주파장 정확도 | ±2 nm @ 590 nm | |
| CCT 정확도 | ±200K @ 2856K | |
| CIE xy 정확도 | ±0.01 @ x=0.33, y=0.33 | 조정 후 |
| 해상도 (색도) | 0.0001 | |
| 반복성 — 파장 | ±1 nm | |
| 반복성 — CCT | ±50K @ 2856K | |
| 반복성 — CIE xy | ±0.0015 | |
| 공급 전압 | 5.0V | |
| 공급 전류 | 새틀라이트당 200 mA | |
| 크기 | Hub 130×55×30 mm · Satellite 120×29×50 mm | |
| 광섬유 길이 | 0.6 m | 채널당 |
| 광섬유 지름 | 1.0 mm | 플라스틱 광섬유 |
| 최소 굽힘 반경 | 15 mm | |
| 작동 온도 | 0–50°C | |
| 인터페이스 | USB, RS232 | |
| 준수 인증 | CE, RoHS | |
| 모델 / 주문 코드 | Legend 60 · Legend 80 · Legend 100 · Legend 120 · Legend 140 · Legend 160 · Legend >160 |
Feasa Legend 소프트웨어 스위트
모든 시스템에 Feasa Limits GUI 및 DLL 기본 포함
- Feasa Limits GUI — 합격/불합격 기준을 자동으로 학습하고 저장하는 그래픽 인터페이스
- 32개 보드 메모리 — 최대 32개의 서로 다른 보드 버전을 저장 — 변형 간 빠른 전환
- 실시간 표시 — 채널별 HSI, 주파장, CCT 및 CIE xy
- 데이터 로깅 — SPC 및 추적성 보고를 위한 전체 데이터 로깅 및 내보내기
- DLL — 맞춤형 테스트 통합 — LabVIEW 및 C++ 프로그래밍 예제
- 독립형 모드 — 10핀 커넥터를 통한 픽스처 내 합격/불합격 판정 — PC 불필요
다운로드 및 자료
